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铠侠332层NAND,最新进展曝光

更新时间 2026-05-23来源 半导体行业观察正文 2164字阅读约 7分钟6 张图片

日本铠侠公司已将下一代NAND闪存的量产列为明年的首要任务。这被解读为该公司旨在迅速缩小技术差距的战略,因为三星电子和SK海力士等日本国内企业都在推迟下一代NAND闪存的商业化进程。

据业内人士23日透露,铠侠计划明年量产第十代(BiCS 10)NAND闪存。

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铠侠(Kioxia)是一家主要的日本NAND闪存制造商。根据市场研究公司TrendForce的数据,铠侠在去年第四季度的全球NAND闪存市场排名第三,市场份额为14.1%,排在三星电子(28.0%)和SK海力士(22.1%)之后。

据评估,该公司也在快速提升其技术能力。铠侠在最近的财报中表示,其2026财年(2026年4月至2027年3月)的优先战略之一是“推出第十代BiCS NAND闪存”。最近一个季度的资本支出也集中在第八代和第十代NAND闪存上。

NAND闪存通过垂直堆叠更多存储单元(最小的存储单位)而不断发展。铠侠(Kioxia)应用了其专有的单元堆叠技术BiCS(位成本可扩展)。第十代BiCS堆叠了332层,与上一代(218层)相比,单位面积数据存储容量提高了59%,数据传输速度提高了33%。

然而,铠侠(Kioxia)第十代NAND闪存的量产规模仍有待观察。一位半导体行业人士解释说:“铠侠最初计划最早于去年下半年开始投资第十代NAND闪存,但目前尚未收到任何订单。”他补充道:“具体细节预计将在今年下半年左右更加明朗。”

如果铠侠真的开始量产第十代NAND闪存,预计它将更快地缩小与三星电子和SK海力士的技术差距。韩国国内企业也在研发第十代NAND闪存,但尚未进行实际的量产投资。

三星电子原计划今年量产430层的第十代NAND闪存,但该计划至少推迟到明年。据信,这主要是由于第十代NAND闪存的技术难度较高以及市场需求所致。

一位知情人士表示:“三星电子正在考虑何时投资以过渡到第十代NAND闪存,尚未公布具体的设备订单计划。SK海力士的情况也类似。”

开发 1Tb 3b/Cell BiCS FLASH™ 第 10 代产品

在国际计算机科学与技术大会 (ISSCC2025) 上,Kioxia 公司和 Sandisk 公司联合推出了第十代产品。该产品是高密度 3D 闪存,容量可扩展至 29Gb/mm。2该产品采用 332 条堆叠式世界线,并运用了我们的布局优化技术,实现了 1Tb 产品中最高的位密度和最小的芯片尺寸。除了引入 Toggle DDR 6.0 之外,我们新的接口 (IF) 电路和读取操作方法还实现了 4.8Gbps 的数据传输速率,并将读取能耗降低了 29%。以下将从三个技术角度进行简要介绍。

该产品采用了与传统产品相同的CBA(CMOS直接键合阵列)架构。但是,其四个平面沿垂直方向排列。这与之前的产品有所不同。这种布局减少了粘合垫(BP)的面积,并且使悬垂面积减少了一半。(图 1(a))。如图 1(b) 所示,最低薄层电阻层应用于存储单元阵列芯片和 CMOS 芯片的顶层金属层,并且这些层与 BWWPC 有效连接。(用于晶圆间电源连接的焊盘)。这种强大的电源网络可实现电路紧凑化,从而提高面积效率并改善电路性能。

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图 2(a) 展示了采用非匹配 DQS 的 IF 架构。该架构新采用了每路P输入参考训练(PPVT)技术,用于为每个 DQ 的输入接收器选择最佳参考信号,以及带有数据驱动自复位 (DDSR) 电路的双向时间交错判决反馈均衡器( 2TI - DFE ) 。图2 ( b) 展示了带有DDSR的 2TI-DFE 的原理图,图 2(c) 展示了其时序图。4TI-DFE 是 DRAM 接口中常用的提高数据输入裕量的技术,但它需要为每个 DQ 配备 4 个读出放大器 (S/A) 电路,这会导致能耗和面积开销的增加。本产品新引入了 DDSR 电路,它可以保持判决信号,OPO、OMO到 1PE和1ME通过三输入与非门检测到的变化,避免了反馈误差。因此,我们通过减少交错单元的数量,实现了降低能耗和面积开销。DFE 从 4 降至 2。

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图 3 显示了所有 DQ[7:0] 的 shmoo 图。我们确认 2TI-DFE 和 PPVT 对 4.8Gbps 的数据传输速率有贡献。

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由于WL堆叠高度密集,未选中WL的充电是导致读取时间(tRead)和电流消耗增加的主要因素。在读取操作中。为了解决连续读取中的这些问题,我们应用了WL电压摆幅减小控制,如图4所示。在传统的连续读取中,未被选中的WL电压会在VSS和读取电压(Vread)之间变化,而读取电压是由电荷泵产生的。在本工作中,读取完第一个WL后,我们将VREAD放电至高于VSS的中间电位。然后,我们从该中间电位充电至VREAD,以进行下一次读取。由于未选中 WL 的电压摆幅较小,因此可以减少下一次读取操作的 Vread 设置时间和电流消耗。

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图 5(a) 显示,我们提出的方案将 tRead 缩短了 4μs,相当于提高了 10%。图 5(b) 显示了读取能效,其中实现了显著的 29% 的提升。

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我们成功开发出一种面积小、能耗低的3D闪存。该技术引入了布局优化技术,采用高度堆叠的线级结构、高速接口和低功耗电路设计。我们致力于提供高性能、大容量的闪存,并不断改进电路设计,同时努力降低功耗。

(来源:综合自铠侠)

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